利用一套基于统计模型的相位和阻抗测量系统对高频试验回路的等效支路分布阻抗进行计算，最终通过不同支路的谐振点建模拟合来分析代表不同绝缘状态的支路电流频谱，以此用于分析高压设备因高温老化，磨损，破裂等引起的分支高频电容变化，快速测试较宽频率范围阻抗值，由于内部故障会导致高频等效电容的较大幅度变化，因此对测试信号的能量吸收将会随着频率增高而增大，通过分析高频电容吸收电流的充放电特征实现对高压设备故障缺陷快速诊断。